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0769-88030227
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設(shè)備：高溫高濕測試系統(tǒng)HTXB GR3-D
廠商：閱芯科技
用途：要用于功率半導體器件的環(huán)境老化試驗，比如 Si/SiC/GaN 材料的 IGBT/DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCR 等器件的 H3TRB 試驗。
測試標準：GB/T4937-1995 IV，2 加速穩(wěn)態(tài)濕熱；JESD22-A101D Steady-State Temperature Humidity Bias Life Test；GJB 150.9A-2009；GJB 1621.7A-2006；GJB 1060.2-1991
技術(shù)指標：
l 最大工作電壓2000V
l 測試溫度：室溫-180℃
l ICES檢測范圍：0-98mA，分辨率0.1μA
l 濕度條件：10%-98%RH，空間均勻性＜5%RH
地址：廣東省東莞市松山湖國家高新區(qū)總部一號12棟5樓
電話：0769-33882377
郵箱：nfjc@cwbg-nf.com
傳真：0769-23078230